https://knigausa.com Just another WordPress site Thu, 11 Jun 2026 18:22:22 +0000 ru-RU hourly 1 https://wordpress.org/?v=6.7.5 https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-3-%d0%b5-%d0%b8-2/ https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-3-%d0%b5-%d0%b8-2/#respond Mon, 05 Aug 2024 10:03:03 +0000 https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-3-%d0%b5-%d0%b8-2/ В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую тему включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме, приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце курса помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание курса соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-те

]]> https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-3-%d0%b5-%d0%b8-2/feed/ 0 1793416 https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-3-%d0%b5-%d0%b8/ https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-3-%d0%b5-%d0%b8/#respond Mon, 05 Aug 2024 09:53:46 +0000 https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-3-%d0%b5-%d0%b8/ В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.

]]> https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-3-%d0%b5-%d0%b8/feed/ 0 1793394 https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-2-%d0%b5-%d0%b8-2/ Sat, 01 Jun 2024 21:45:09 +0000 https://knigausa.com/product/%d0%b4%d0%b8%d1%84%d1%80%d0%b0%d0%ba%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d1%81%d1%82%d1%80%d1%83%d0%ba%d1%82%d1%83%d1%80%d0%bd%d1%8b%d0%b9-%d0%b0%d0%bd%d0%b0%d0%bb%d0%b8%d0%b7-2-%d0%b5-%d0%b8-2/ В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.

]]> 1313982