Нет в наличии

Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов 2-е изд. , пер. И доп. Учебное пособие для академического бакалавриата

С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния.Предлагаемое учебное пособие посвящено дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость настоящего издания обусловлена прежде всего тем, что учебные пособия по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют.

$32.99

Нет в наличии

ID: 453865 Артикул: 1099761 Категория:

С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Предлагаемое учебное пособие посвящено дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость настоящего издания обусловлена прежде всего тем, что учебные пособия по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор данной книги — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.

Вес11.9 унция
Габариты21.59 × 14.48 × 2.54 дюйм
EAN

9785534060119

ISBN

978-5-534-06011-9

формат

70×100/16

Издательство

Серия

переплет

Твердый переплет

Автор

стандарт

22.0000

дата-получения

12.04.2018

количество-страниц

180

Год выпуска

SKU

585553

формат-ммсм

170×240

Язык

тип-издания

Отдельное издание

тираж

4

handling_time

14 days