Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 2-е изд. , испр. И доп. Учебное пособие для вузов

Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа.Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа.Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.

$53.99

ID: 345051 Артикул: 891869 Категория:

Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.

Вес21 унция
Габариты8.5 × 5.7 × 1.0 дюйм
ISBN

978-5-534-04316-7

EAN

9785534043167

Формат

70×100/16

Издательство

Серия

Переплет

Твердый переплет

Автор

Стандарт

14

Дата получения

05.04.2017

Год выпуска

Количество страниц

327

SKU

492456

Формат, мм\см

170×240

Язык

Тип издания

Отдельное издание

Тираж

244