Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 2 2-е изд. , испр. И доп. Учебное пособие для вузов

Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа.Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа.Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.

$49.99

ID: 349821 Артикул: 895572 Категория:

Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.

Вес19 унция
Габариты8.5 × 5.7 × 1.0 дюйм
ISBN

978-5-534-04324-2

EAN

9785534043242

Формат

70×100/16

Издательство

Серия

Переплет

Твердый переплет

Автор

Стандарт

14

Дата получения

06.04.2017

Год выпуска

Количество страниц

299

SKU

492746

Формат, мм\см

170×240

Язык

Тип издания

Отдельное издание

Тираж

230