В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами.
ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ 3-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для СПО
ПрозаВ курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами.
$58.49
Вес | 18.8 унция |
---|---|
Габариты | 8.5 × 5.7 × 1.0 дюйм |
handling_time | 20 days |
ISBN | 978-5-534-17188-4 |
EAN | 9785534171884 |
формат | 70×100/16 |
Издательство | |
Серия | |
переплет | Твердый переплет |
Автор | |
Год выпуска | |
количество-страниц | 342 |
SKU | 532567 |
формат-ммсм | 170×240 |
Отзывы
Отзывов пока нет.