Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.
Инженерные основы измерений нанометровой точности (пер. с англ.)
Художественная литератураКнига известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров…
$65.49
Вес | 19.4 унция |
---|---|
Габариты | 8.5 × 5.7 × 1.0 дюйм |
handling_time | 14 days |
ISBN | 978-5-91559-119-5 |
EAN | 9785915591195 |
формат | 60×90/16 |
Издательство | |
переплет | Твердый переплет |
Автор | |
стандарт | 10 |
Год выпуска | |
количество-страниц | 400 |
SKU | 168397 |
формат-ммсм | 145×215 |
Язык | |
Иллюстраторы | |
тип-издания | Отдельное издание |
тираж | 20 |
Отзывы
Отзывов пока нет.